Chenming Hu
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Chenming Calvin Hu (chinesisch 胡正明; * 12. Juli 1947 in Peking) ist ein taiwanisch-US-amerikanischer Elektroingenieur an der University of California, Berkeley. Hu ist für seine „bahnbrechenden Neuentwicklungen in der Mikroelektronik [bekannt], insbesondere auf dem Gebiet der Zuverlässigkeit von Schaltkreisen, für den ersten Industriestandard für die Entwicklung integrierter Schaltkreise (Circuit design) und für die ersten dreidimensionalen Schaltkreise, die die Halbleitertechnologie dramatisch verbesserten“ (“…pioneering innovations in microelectronics including reliability technologies, the first industry-standard model for circuit design, and the first 3-dimensional transistors, which radically advanced semiconductor technology”).
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Die sechs Teilsignale hinter dem Fame-Score und ihre Ränge in den Ranglisten.
Quellen
- چنمینگ هوGeringe Zuverlässigkeitwikipedia · fa.wikipedia.org
- Chenming HuGeringe Zuverlässigkeitwikipedia · de.wikipedia.org
- Chenming HuGeringe Zuverlässigkeitwikipedia · en.wikipedia.org
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